La treizième édition du congrès international de l’association professionnelle internationale, “IEEE Region 8 Student and Young Professional” (R8 SYP 2022) se tiendra du 3 au 7 août 2022, à Tunis, et réunira les membres de l’Institut des ingénieurs électriciens et électroniciens (IEEE) issus de l’ensemble de la région 8 (Europe, Afrique et Moyen-Orient), a annoncé l’Institut National des Sciences Appliquées et de Technologie de Tunis.
Plus de 250 étudiants et jeunes professionnels appartenant à 40 pays membres sont attendus à ce congrès qui est organisé par la Branche estudiantine de l’INSAT, en collaboration avec IEEE Region 8 et IEEE Tunisia Section. La cérémonie d’ouverture de ce congrès aura lieu au Théâtre des Régions de la Cité de la Culture, précise l’INSAT.
R8 SYP est un congrès se déroulant tous les deux ans, et constitue une opportunité pour les membres IEEE de la région 8 regroupant l’Europe, l’Afrique et le Moyen Orient de se réunir et d’échanger autour des dernières innovations et découvertes dans le milieu technologique. L’objectif principal de SYP est d’améliorer les capacités d’ingénierie des étudiants et jeunes professionnels, à travers différentes activités techniques et culturelles et leur offrir l’occasion de s’organiser en réseau.
La dernière édition de ce congrès avait eu lieu il y a deux ans en ligne à cause de la pandémie de COVID 19, la dernière édition en présentiel remonte à 2018 et a eu lieu à Porto au Portugal. SYP 2022 sera la première édition à se tenir après la pandémie, et la première organisée en Afrique depuis 20 ans, toujours d’après l’INSAT.
L’IEEE ou l'” Institut des ingénieurs électriciens et électroniciens “, est une association professionnelle qui a pour objectif de développer la technologie au profit de l’humanité, selon son site.
“Historiquement implantée aux USA,…l’IEEE est organisée géographiquement en Régions, divisées en Sections et techniquement en Sociétés savantes. L’IEEE compte plus de 400 000 membres et possède différentes branches dans plusieurs parties du monde, d’après la même source.
